武汉普赛斯仪表有限公司

主营:数字源表半导体参数测试仪功率器件分析仪

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产品名称: MPPT并行老化测试插卡式源表
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价格: 1000
供货总量: 10000
规格: CS1010
更新日期: 2024年09月12日,有效期:360天
关键字: 插卡式源表 MPPT老化测试 多通道源表
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武汉普赛斯推出的精密型数字源表(SMU)是对太阳能电池和各种其他器件的I-V特性进行表征的蕞佳解决方案。其宽广的电流和电压测量范围,可以为科研及生产制造提供着越的测量性能。结合太阳光模拟器以及专用的上位机软件,支持自动扫描I-V特性曲线以及开路电压、短路电流、蕞大功率、填充因子、转换效率等参数的测量,能极大简化太阳能电池I-V测试效率,可以比以前更精确、更轻松的表征器件。MPPT并行老化测试插卡式源表认准普赛斯仪表,详询18140663476

目前,钙钛矿太阳能电池的效率正在不断提高,但是钙钛矿材料本身的稳定性严重影响了其商业化的进程。根据国际规定的光伏组件老化测试标准(IEC61646,  2008),光伏器件必须可以在85%湿度和85 ℃温度的条件下连续工作1000 h后仍保持初始效率的90%以上

钙钛矿电池对环境因素敏感.png

多因素造成钙钛矿不稳定性.png


普赛斯MPPT并行老化测试插卡式源表方案:

测试方法:将电池置于>1sun标准光照射下,持续蕞大功率点跟踪(MPPT),控制电池温度为50℃左右,进行光老化测试。常规测试时间是1000小时。

MPPT并行老化测试方案.jpg



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